Представлен стандарт для тестирования всех кристаллов в 3D-упаковке

Не секрет, что дальнейшее развитие микроэлектроники лежит в плоскости нагромождения друг на друга разных кристаллов в виде 3D-упаковки. Для широкого продвижения этой концепции нужен был инструмент независимого тестирования кристаллов в стеках. Теперь такой инструмент есть. Бельгийский исследовательский центр Imec сообщил, что недавно Ассоциация стандартов IEEE одобрила стандарт IEEE Std 1838. В феврале вся документация по новому стандарту появится в цифровой библиотеке IEEE Xplore, откуда её можно будет получить. Аббревиатура Std в названии стандарта расшифровывается как design-for-test или, по-русски, дизайн (разработка) для теста.

Источник

Читайте также

• Xiaomi представила маршрутизатор Redmi Router AX5400 с чипом Qualcomm
• Western Digital повысила цены на флеш-память NAND — это следствие загрязнения производства в январе
• 4 вида вооружения, которые отправили в Европу из-за Украины, но никогда не испытывали в деле
• Twitter позволит вешать ярлыки на ботов, чтобы люди могли отличать их от живых пользователей
• Найдена загадочная "невидимая" черная дыра: космическая аномалия
• Новая статья: Обзор игрового 4K-монитора ASUS TUF Gaming VG28UQL1A: лучше поздно, чем никогда